Rastrovací elektronový mikroskop
Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30

pevná cena bez DPH
55 000 €
Stav
Použitý
Umístění
Borken Německo
Rastrovací elektronový mikroskop Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Rastrovací elektronový mikroskop Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Rastrovací elektronový mikroskop Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Rastrovací elektronový mikroskop Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Rastrovací elektronový mikroskop Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Rastrovací elektronový mikroskop Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Rastrovací elektronový mikroskop Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Rastrovací elektronový mikroskop Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Rastrovací elektronový mikroskop Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Rastrovací elektronový mikroskop Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Rastrovací elektronový mikroskop Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
more Images
Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Zeiss EVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Zobrazit fotky
Zobrazit mapu

Údaje o stroji

Cena a lokalita

pevná cena bez DPH
55 000 €
Umístění:
Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland Německo
Volejte

Podrobnosti nabídky

ID výpisu:
A183-98561
Referenční č.:
24495
Naposled aktualizováno:
05.09.2025

Popis

Zeiss
Typ: EVO 50 XVP
Přístroje řady EVO kombinují výkonnou rastrovací elektronovou mikroskopii s intuitivním konceptem ovládání,
který je vhodný pro zkušené uživatele i nováčky.

Díky rozsáhlým možnostem lze EVO přesně přizpůsobit vašim požadavkům,
bez ohledu na to, zda se pohybujete v oblasti biologických věd nebo materiálových věd
nebo se podílejí na rutinní průmyslové kontrole kvality a analýze poruch.
Rastrovací elektronový mikroskop EVO 50 XVP, EDX od Oxford Xplore 30 SDD detektor bez N-chlazení 05 / 2021

Rozměry: DxDxV 930 x 1930 x 1600 mm

Velikost snímače 30 mm 2 / rozlišení 129 MnKa při 100 000 cps
Z Boron - Califonium

Software AZtec lite na Windows 10

S korekcí driftu

Kvalifikovaná kvantitativní analýza analyzátoru

ID bodu

mapování

řádkové skenování

tlumicí systém součástí
každý kontejner unese 116 kg/bar

Provozní doba cca 11 500 hodin
Gsdpjvvtnbofx Agfott

Upgrade PC na Windows 10 05/2021
Rastrovací elektronový mikroskop je plně funkční.

Hmotnost 750 kg + 385 kg +150 kg
Stav: použité
(Změny a chyby v technických datech, informace vyhrazeny!)
Před nákupem se prosím informujte na možnosti dopravy.
Případné další dotazy Vám rádi zodpovíme po telefonu.

Inzerát byl přeložen automaticky a mohou se vyskytnout chyby překladů.

Poskytovatel

Naposledy online: Včera

Registrován(a) od: 2012

588 Inzeráty online

Trustseal Icon
Volejte

Odeslat požadavek

Pozemekus 
Německo
Rakousko
Švýcarsko
Spojené státy americké
Spojené království
Francie
Belgie
Španělsko
Mexiko
Itálie
Nizozemsko
Polsko
Ruská federace
Bělorusko (Běloruská republika)
Ukrajina
Estonsko
Turecko
Nový Zéland
Irsko
Česká republika
Dánsko
Finsko
Švédsko
Norsko
Lucembursko
Řecko
Litva
Lotyšsko
Island
Portugalsko
Brazílie
Venezuela
Argentina
Maďarsko
Slovensko
Rumunsko
Moldavsko
Slovinsko
Srbsko
Černá Hora
Albánie
Chorvatsko
Bulharsko
Severní Makedonie
Bosna a Hercegovina
Izrael
Egypt
Maroko
Indie
Indonésie
Jižní Korea
Japonsko
Thajsko
Malajsie
Vietnam
China
Tchaj-wan
Írán
Bangladéš
Poznámka: Váš dotaz bude předán všem prodejcům v kategorii strojů. Díky tomu můžete získat velmi mnoho nabídek.
Dotaz nebylo možné odeslat. Zkuste to prosím znovu později.

Telefon & Fax

+49 2861 ... inzeráty
Tyto inzeráty by vás také mohly zajímat.
Malý inzerát
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
more images
Německo Borken
645 km
Skenovací elektronový mikroskop (PC-SEM)
JeolJSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Ověřený prodejce
Volejte
Malý inzerát
Rastrovací elektronový mikroskop (REM) Zeiss XB 350
Rastrovací elektronový mikroskop (REM) Zeiss XB 350
Rastrovací elektronový mikroskop (REM) Zeiss XB 350
Rastrovací elektronový mikroskop (REM) Zeiss XB 350
Rastrovací elektronový mikroskop (REM) Zeiss XB 350
more images
Německo Mainz
519 km
Rastrovací elektronový mikroskop (REM)
ZeissXB 350
Volejte
Malý inzerát
Polní emisní rastrovací elektronový mikroskop JEOL JSM-IT800is
Polní emisní rastrovací elektronový mikroskop JEOL JSM-IT800is
Polní emisní rastrovací elektronový mikroskop JEOL JSM-IT800is
Polní emisní rastrovací elektronový mikroskop JEOL JSM-IT800is
more images
Německo Freising
314 km
Polní emisní rastrovací elektronový mikroskop
JEOLJSM-IT800is
Volejte
Malý inzerát
Stolní rastrovací elektronový mikroskop JEOL JCM-7000
Stolní rastrovací elektronový mikroskop JEOL JCM-7000
Stolní rastrovací elektronový mikroskop JEOL JCM-7000
more images
Německo Freising
314 km
Stolní rastrovací elektronový mikroskop
JEOLJCM-7000
Volejte
Malý inzerát
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex Bruker Microflex
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex Bruker Microflex
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex Bruker Microflex
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex Bruker Microflex
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex Bruker Microflex
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex Bruker Microflex
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex Bruker Microflex
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex Bruker Microflex
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex Bruker Microflex
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex Bruker Microflex
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex Bruker Microflex
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex Bruker Microflex
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex Bruker Microflex
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex Bruker Microflex
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex Bruker Microflex
more images
Spojené království Duxford
1 101 km
Hmotnostní spektrometr Bruker Maldi-Tof Microflex
BrukerMicroflex
Volejte
Malý inzerát
Pumpa detektoru plynů Drager Accuro Drager Accuro
Pumpa detektoru plynů Drager Accuro Drager Accuro
Pumpa detektoru plynů Drager Accuro Drager Accuro
Pumpa detektoru plynů Drager Accuro Drager Accuro
more images
Spojené království Duxford
1 101 km
Pumpa detektoru plynů Drager Accuro
DragerAccuro
Volejte
Malý inzerát
Systém testeru bublin / detektor úniku TRIO-TECH International G-233F | G-203
Systém testeru bublin / detektor úniku TRIO-TECH International G-233F | G-203
Systém testeru bublin / detektor úniku TRIO-TECH International G-233F | G-203
Systém testeru bublin / detektor úniku TRIO-TECH International G-233F | G-203
Systém testeru bublin / detektor úniku TRIO-TECH International G-233F | G-203
Systém testeru bublin / detektor úniku TRIO-TECH International G-233F | G-203
Systém testeru bublin / detektor úniku TRIO-TECH International G-233F | G-203
Systém testeru bublin / detektor úniku TRIO-TECH International G-233F | G-203
Systém testeru bublin / detektor úniku TRIO-TECH International G-233F | G-203
Systém testeru bublin / detektor úniku TRIO-TECH International G-233F | G-203
Systém testeru bublin / detektor úniku TRIO-TECH International G-233F | G-203
more images
Nizozemsko Eindhoven
730 km
Systém testeru bublin / detektor úniku
TRIO-TECH InternationalG-233F | G-203
Volejte