Měřicí systém

Keyence VR 5200

Stav: velmi dobrý (použité), Keyence Zde vám nabízíme 3D profilometr. Technické údaje: Zobrazovací a měřicí rozsah: Horizontální: mm 24,0 12,0 8,0 6,0 7,6 3,8 2,5 1,9 Vertikální: mm 18,0 9,0 6,0 4,5 5,7 2,9 1,9 1,4 Rozlišení měření 0,1 μm : Měření výšky: Rozsah měření výšky Bez složení obrazu v Z: 10 mm 1 mm S kompozicí obrazu v Z: 50 mm 30 mm Nodpfx Askvnthsb Nocl Opakovatelnost (σ)*1 Bez složení obrazu v Z : 0,4 µm S kompozicí obrazu v Z: 1,0 µm Měření šířky: Přesnost měření*1 Bez složení obrazu v Z : ±2,5 μm Se složením obrazu v Z: ±4,0 μm Opakovatelnost (σ) *1 1 μm 0,5 μm Přesnost měření*1 ±5 μm ±2 μm Zdvih XY 184x88mm Z zdvih 73 mm Včetně řídicí jednotky VR-5000 + software s licencemi Typ: VR-5200 + VR-5000 Prodej po umístění!! Stav: plně funkční + bez známek použití Pro další technické informace kontaktujte výrobce. Rozsah dodávky: (podle vyobrazení) (Změny a chyby v technických údajích, detailech jsou vyhrazeny!) Případné další dotazy vám rádi zodpovíme po telefonu.

Stav: velmi dobrý (použité), Keyence Model: VR-5200 Typ: měřicí hlava Světelné zdroje Světelný zdroj pro sledování: LED kruhové světlo (červené, modré, zelené) Světelný zdroj pro měření: Bílá LED Řídící jednotka: VR-5000 Rozsah zobrazení a měření Režim makro Zvětšení (na základě 15palcového monitoru) 12×:  Horizontální 24,0 mm Vertikální 18,0 mm Zvětšení (na základě 15palcového monitoru) 25×: Horizontální 12,0 mm Vertikální 9,0 mm Zvětšení (na základě 15palcového monitoru) 38× Horizontální 8,0 mm Vertikální 6,0 mm Zvětšení (na základě 15palcového monitoru) 50× Horizontální 6,0 mm Vertikální 4,5 mm Mikro režim Zvětšení (na základě 15palcového monitoru) 40× Vodorovně 7,6 mm Vertikální 5,7 mm Zvětšení (na základě 15palcového monitoru) 80× Vodorovně 3,8 mm Vertikální 2,9 mm Zvětšení (na základě 15palcového monitoru) 120× Vodorovně 2,5 mm Vertikální 1,9 mm Zvětšení (na základě 15palcového monitoru) 160× Vodorovně 1,9 mm Vertikální 1,4 mm Přiblížení 1× až 4× Měření nadmořské výšky Rozlišení měření 0,1 µm Rozsah měření výšky Bez kompozice obrazu v Z Režim makro: 10 mm Mikro režim: 1 mm S kompozicí obrazu v Z Režim makro: 50 mm Mikro režim: 30 mm Opakovatelnost (σ) Bez kompozice obrazu v Z 0,4 um S kompozicí obrazu v Z Nedpfxowc Sxde Ab Nscl 1,0 um Přesnost měření Bez kompozice obrazu v Z ±2,5 um S kompozicí obrazu v Z ±4,0 um Měření šířky Opakovatelnost (σ) Režim makro: 1 µm Mikro režim: 0,5 µm Přesnost měření Režim makro: ±5 µm Mikro režim: ±2 µm Kompozice obrazu Plně automatické měření (automatické ovládání XY + automatické ostření Z),  Automatické přiřazení, automatické nastavení oblasti Měřitelný rozsah XY 206 x 104 mm Tabulka objektů XY zdvih 184 × 88 mm (motorizovaný) Z-zdvih 73 mm (motorizovaný) Nosnost 4,5 kg Pracovní vzdálenost 75 mm Prvek záznamu obrazu 4megapixelový CMOS, černobílý Objektiv vysílače Dvojitá telecentrická čočka x 2 Objektiv přijímače Dvojitý telecentrický objektiv Zpracování dat Speciální PC podle specifikací KEYENCE (operační systém: Windows 11 Pro) Síťová přípojka Napětí 100 až 240 V AC, 50/60 Hz Spotřeba energie max. 200 VA Odolnost vůči prostředí Okolní teplota 15 až 30 °C Relativní vlhkost 20 až 80 % r. F. (bez kondenzace) Hmotnost cca. 28 kg (hmotnost měřicí jednotky cca 11 kg) Tabulka objektů rozšíření vzdálenosti Prohlížecí software VR-5000 verze 3.3.5.75 Modul kompozice obrazu VR-H3J Vytvoří jeden velký snímek ze série snímků pořízených pomocí zobrazovacího softwaru byly zaznamenány. Vidíte barevné obrázky. Rozšiřující modul analýzy VR-H3CA Rozšiřuje funkčnost analytického softwaru. Může porovnávat měření a Proveďte srovnání 3D CAD měření. Stav: použité Rozsah dodávky: (jak je uvedeno) (Změny a chyby v technických údajích jsou vyhrazeny!) Případné další dotazy Vám rádi zodpovíme po telefonu.

Stav: připraven k použití (použité), Rok výroby: 2019, Zdroje světla: Zdroj světla pro pozorování: LED kruhové světlo (červené, modré, zelené), zdroj světla pro měření: Zvětšení (ve vztahu k 15palcovému monitoru): 12x-160x. Maximální horizontální/vertikální rozsah měření: 24 mm/18 mm, Rozlišení měření: 0,1 µm, Rozsah měření výšky: 1 mm-50 mm, Opakovatelnost (σ): 0,4 µm, Přesnost měření: ±2,5 µm. Ncsdpfx Absti Adqe Njl