Rentgenový difraktometr (XRD)PANalytical
X’Pert PRO MPD
Rentgenový difraktometr (XRD)
PANalytical
X’Pert PRO MPD
pevná cena bez DPH
13 500 €
Stav
Použitý
Umístění
Borken 

Zobrazit fotky
Zobrazit mapu
Údaje o stroji
Cena a lokalita
pevná cena bez DPH
13 500 €
- Umístění:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, DE
Volejte
Podrobnosti nabídky
- ID výpisu:
- A195-31791
- Referenční č.:
- 24688
- Naposled aktualizováno:
- 10.07.2025
Popis
PANalytical
PANalytical X’Pert PRO MPD rentgenový difraktometr (XRD)
Výňatek ze servisní zprávy:
Zařízení: PANalytical X’Pert PRO MPD
Zpracováno dne: 07.07.2021
Prováděné práce:
- Opětovná instalace a zprovoznění systému
- Připojení externích napájecích vedení
- Zahřívací fáze
- Kompletní seřízení goniometru a dalších komponentů
- Provedení údržby včetně výměny vadných dílů
Použité náhradní díly:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATERIE. NI-CD
VENTILÁTOR PRO JEDNOTKU X-CELERATOR
FILTROVÁNÍ VODA
Motor PW3050
("Zařízení nebylo testováno v našem závodě")
X’Pert PRO MPD je velmi univerzální a výkonný rentgenový difraktometr (XRD) určený ke strukturní charakterizaci krystalických materiálů – ideální pro základní výzkum i rutinní aplikace v průmyslu a na univerzitách. Díky modulární konstrukci, rychlému detektoru a možnosti řízení teploty a atmosféry je vhodné jak pro rutinní analýzy, tak pro složité in-situ experimenty.
Hlavní vlastnosti:
Různé měřicí geometrie:
- Reflexní měření v Bragg-Brentano (θ–2θ) módu
- Transmisní geometrie pro prášky v kapilárách
- Volitelně také SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) pro nanostruktury
Zdroje a detektory záření:
- Nejčastěji měděná anoda (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å)
- X’Celerator detektor (1D, ultra rychlý) pro paralelní sběr dat
Modulární systém s technologií PreFIX:
- Rychlá výměna optik a vzorkových stolů bez potřeby nové kalibrace
In-situ měření při vysokých teplotách:
- Měření až do cca 1200 °C
- Řízená atmosféra: vzduch, dusík, kyslík (redukující pouze omezeně)
Typické aplikace:
- Fázová analýza a kvantitativní Rietveldova analýza
- Určení velikosti krystalitů, mikrodeformace, vnitřní napětí
- In-situ sledování fázových přechodů, oxidace, krystalizace apod.
- SAXS měření pro analýzu nanočástic, pórovitých struktur
- Široká škála vzorků: prášky, tenké vrstvy, keramiky, farmaceutika, katalyzátory a další
Technické údaje (typické)
Dedpswycatefx Af Nsku
Vlastnost a specifikace
Úhlový rozsah (2θ): cca 0,5° až 150°
Krok až 0,002° nebo jemnější
Goniometr: vertikální 0–0, poloměr cca 240 mm
Teplotní rozsah: pokojová teplota až cca 1200 °C
Atmosféra: vzduch, N₂, O₂ (redukující pouze omezeně)
Detektory: X’Celerator (1D), proporcionální čítač
Rozšíření a použití:
X’Pert PRO MPD je používán po celém světě, např. na:
Univerzitách (ETH Zürich, TU Dresden, Universität Wien)
Výzkumných ústavech (např. Max-Planck-Institut, ICN2, IS2M)
Průmyslu (např. vývoj materiálů, farmacie, chemie)
Stav: použité
Dodávka obsahuje: (viz foto)
(Změny a omyly v technických údajích a informacích vyhrazeny!)
Další otázky rádi zodpovíme telefonicky.
Inzerát byl přeložen automaticky a mohou se vyskytnout chyby překladů.
PANalytical X’Pert PRO MPD rentgenový difraktometr (XRD)
Výňatek ze servisní zprávy:
Zařízení: PANalytical X’Pert PRO MPD
Zpracováno dne: 07.07.2021
Prováděné práce:
- Opětovná instalace a zprovoznění systému
- Připojení externích napájecích vedení
- Zahřívací fáze
- Kompletní seřízení goniometru a dalších komponentů
- Provedení údržby včetně výměny vadných dílů
Použité náhradní díly:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATERIE. NI-CD
VENTILÁTOR PRO JEDNOTKU X-CELERATOR
FILTROVÁNÍ VODA
Motor PW3050
("Zařízení nebylo testováno v našem závodě")
X’Pert PRO MPD je velmi univerzální a výkonný rentgenový difraktometr (XRD) určený ke strukturní charakterizaci krystalických materiálů – ideální pro základní výzkum i rutinní aplikace v průmyslu a na univerzitách. Díky modulární konstrukci, rychlému detektoru a možnosti řízení teploty a atmosféry je vhodné jak pro rutinní analýzy, tak pro složité in-situ experimenty.
Hlavní vlastnosti:
Různé měřicí geometrie:
- Reflexní měření v Bragg-Brentano (θ–2θ) módu
- Transmisní geometrie pro prášky v kapilárách
- Volitelně také SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) pro nanostruktury
Zdroje a detektory záření:
- Nejčastěji měděná anoda (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å)
- X’Celerator detektor (1D, ultra rychlý) pro paralelní sběr dat
Modulární systém s technologií PreFIX:
- Rychlá výměna optik a vzorkových stolů bez potřeby nové kalibrace
In-situ měření při vysokých teplotách:
- Měření až do cca 1200 °C
- Řízená atmosféra: vzduch, dusík, kyslík (redukující pouze omezeně)
Typické aplikace:
- Fázová analýza a kvantitativní Rietveldova analýza
- Určení velikosti krystalitů, mikrodeformace, vnitřní napětí
- In-situ sledování fázových přechodů, oxidace, krystalizace apod.
- SAXS měření pro analýzu nanočástic, pórovitých struktur
- Široká škála vzorků: prášky, tenké vrstvy, keramiky, farmaceutika, katalyzátory a další
Technické údaje (typické)
Dedpswycatefx Af Nsku
Vlastnost a specifikace
Úhlový rozsah (2θ): cca 0,5° až 150°
Krok až 0,002° nebo jemnější
Goniometr: vertikální 0–0, poloměr cca 240 mm
Teplotní rozsah: pokojová teplota až cca 1200 °C
Atmosféra: vzduch, N₂, O₂ (redukující pouze omezeně)
Detektory: X’Celerator (1D), proporcionální čítač
Rozšíření a použití:
X’Pert PRO MPD je používán po celém světě, např. na:
Univerzitách (ETH Zürich, TU Dresden, Universität Wien)
Výzkumných ústavech (např. Max-Planck-Institut, ICN2, IS2M)
Průmyslu (např. vývoj materiálů, farmacie, chemie)
Stav: použité
Dodávka obsahuje: (viz foto)
(Změny a omyly v technických údajích a informacích vyhrazeny!)
Další otázky rádi zodpovíme telefonicky.
Inzerát byl přeložen automaticky a mohou se vyskytnout chyby překladů.
Poskytovatel
Poznámka: Zaregistrujte se zdarma nebo se přihlaste, abyste získali všechny informace.
Odeslat požadavek
Telefon & Fax
+49 2861 ... inzeráty
Váš inzerát byl úspěšně smazán
Došlo k chybě